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        WKL-702顆粒圖像分析儀

        WKL-702顆粒圖像分析儀

        測量范圍:0.1~3000(微米)
        總放大倍數:8000倍
        最大分辨率:0.1微米/像素
        重復性:誤差≤±1%

        產品介紹

        將傳統的顯微測量方法與現代的圖像技術相結合,是一種采用圖像法進行顆粒形貌分析和顆粒測量的顆粒分析儀器,由光學顯微鏡、數字CCD攝像機和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統通過專用的數字攝像機將圖像傳輸給電腦,通過專用的顆粒圖像處理分析軟件對圖像進行分析處理,具有直觀、形像、準確和測量范圍寬等特點。

        1、圖像多種處理方法:影像增強、圖像疊加、局部提取、定倍放大、對比度、亮度調節、顆粒定位、自動分割等幾十種功能。

        2、具有圓度、曲線、周長、面積、直徑等幾十種幾何參數的基本測量。

        3、可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數,以線性或非線性統計方式繪出分布圖。

        儀器型號

        WKL-702

        測量范圍

        0.1~3000(微米)

        總放大倍數

        8000倍

        最大分辨率

        0.1微米/像素

        重復性

        誤差≤±1%

        自動分割速度

        ≤1秒

        數字攝像機(CCD)

        500萬像素

        數據儲存

        電腦另配

        通信接口

        USB

        操作系統

        WinDOws 98/XP/7/8/10系統均可

        電源

        AC220V ±10% 200W

        儀器尺寸

        270mmX410mmX440mm

        儀器凈重

        15kg


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