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        上海佑科UV756/UV756CRT掃描型紫外可見分光光度計

        上海佑科UV756/UV756CRT掃描型紫外可見分光光度計

        波長范圍:190-1100nm;波長準確度:±0.5nm;光譜帶寬:2nm

        產品介紹

        產品特點

        *根據設置波長自動保存**新波長

        *與普通同類產品相比增加了測量的穩定性

        *可測量光程為100毫米

        *全面的控制紫外燈和鎢燈光功能

        *根據標準模式或輸入標準建立定量分析方式

        *能夠保存50組數據記錄以及多達10條校準曲線

        *可選擇安裝與電腦連接的軟件裝置

        產品優勢

        采用1200條/mm高性能光柵。新型的光源控制系統,使儀器光源切換更快速。

        精確的2nm帶寬,使測試數據更準確。使用進口長壽命光源,使儀器光源切換更快速。

        特有的波長控制系統,使波長精度更高。改良的光學系統,使測試更準確。

        采用進口的光電轉換器,使儀器的靈敏度更高。

        新型的微電腦數據處理系統。使儀器的使用更簡便,穩定性也很好。

        儀器采用128*64位點陣液晶顯示器,可直接顯示標準曲線和測試數據,主機可存儲測試數據,并可選配打印機;

        UV756CRT紫外可見分光光度計UV756的基礎上增加了全波段自動掃描功能和連接微機功能。

        技術參數

        . 波長范圍:190-1100nm
        . 波長準確度:±0.5nm
        . 波長重復性:0.2nm
        . 光譜帶寬:2nm
        . 透色比準確度:±0.5%T
        . 透色比重復性:0.2%T
        . 透色比范圍:0.0-200%T
        . 吸光度范圍:-0.30-3A
        . 濃度顯示范圍:0-1999
        . 雜散光:0.05%T@220nm、360nm
        . 穩定性:±0.001A/小時 @500nm
        . 輸出接口:USB接口
        . 打印機:選配
        . 分析軟件:支持

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